技術名稱 具動態密鑰之高安全性晶片測試技術
計畫單位 國立成功大學
計畫主持人 李昆忠
技術簡介 本技術提出一種高安全性之晶片測試架構防護技術,可以在測試時以動態方式產生密鑰,在不降低系統性能和可測試特性的情況下,本技術可有效抵禦針對掃描鏈和記憶體的攻擊。且由於本技術之動態特性,其安全等級遠高於所有現有技術,且無論攻擊者嘗試多少次密鑰猜測,本技術之安全等級亦不會降低。
科學突破性 1. 使用動態密鑰並維持在相當高的安全等級。2. 相同的非法測試向量,所產生的偽響應會相同,讓攻擊者無法觀測及分析正確的測試響應。3. 將動態密鑰種子合併於測試向量中,因此不需額外密鑰輸入腳位,使攻擊者無法知道此架構是否含有安全性設計。4. 從製造測試到現場測試皆不需分享密鑰給測試人員。
產業應用性 可廣泛應用於通訊、車用、家電、消費性電子等產品之晶片測試架構
技術影片
  • 聯絡人
  • 謝玲蘭
本網站使用您的Cookie於優化網站。繼續瀏覽網站即表示您同意本公司隱私權政策,您可至隱私權政策了解詳細資訊。